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Dektak XT台阶仪
纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。台阶仪Dektak XT能实现:· 使用温度条件:10-30℃;湿度:≤80
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Bruker布鲁克台阶仪Dektak XT
布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰,更加巩固了其行业地位
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bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站
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P-7 台阶仪
需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力
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P-17 台阶仪
需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了
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Agilent InfinityLab LC/MSD XT 系统
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Dektak XTL探针式轮廓仪
Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ®传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和
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安捷伦 液质联用 LC/MSD XT
Agilent InfinityLab LC/MSD XT 系统通过增加质谱分析功能能大大优化您的大分子色谱分析。LC/MSD XT 能轻松应对各种复杂的挑战如生物分子分析和高通量筛查
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Alpha-Step D-600 台阶仪
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薄膜厚度台阶仪
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